SN74ABTH182646APM
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Bleifrei / RoHS-konform
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Produktparameter
- Versorgungsspannung
- 4.5 V ~ 5.5 V
- Supplier Device-Gehäuse
- 64-LQFP (10x10)
- Serie
- 74ABTH
- Verpackung
- Tray
- Verpackung / Gehäuse
- 64-LQFP
- Andere Namen
- 296-4133
74ABTH182646APMG4
74ABTH182646APMG4-ND
- Betriebstemperatur
- -40°C ~ 85°C
- Anzahl der Bits
- 18
- Befestigungsart
- Surface Mount
- Feuchtigkeitsempfindlichkeitsniveau (MSL)
- 3 (168 Hours)
- Hersteller Standard Vorlaufzeit
- 6 Weeks
- Logiktyp
- Scan Test Device With Transceivers And Registers
- Bleifreier Status / RoHS-Status
- Lead free / RoHS Compliant
- detaillierte Beschreibung
- Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
- Basisteilenummer
- 74ABTH182646
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